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  • Bruker XRD 布魯克 JV-DX X射線衍射儀
    Bruker布魯克 JV-DX X射線衍射儀 XRD$n$n——X射線測量滿足您的研發(fā)需求$n$nJordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工藝開發(fā)和質量控制的新一代柔性 X 射線衍射儀器。 該系統(tǒng)具有全自動源和檢測器光學元件以及水平樣品安裝,可以在*計算機/配方控制下在標準和高分辨率 X 射線衍射和 X 射線反射率模式之間切換,而無需手動更改配置。
    更新日期:2025-08-13訪問量:5661廠商性質:代理商
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  • Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀
    Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀 VERTEX70v為要求嚴格的分析和研究應用提供了超高性能。具創(chuàng)新意義的設計成就了該系列譜儀佳的靈活性和越的性能。數據采集使用delta-sigma自激型數/模轉換器,該轉換器具備真正的24位ADC動態(tài)范圍。布魯克先進技術DigiTect將此數模轉換器與檢測器自帶的電子前置信號放大器整合到一起。
    更新日期:2025-08-13訪問量:5341廠商性質:代理商
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  • Bruker VERTEX 80/80v 傅立葉紅外光譜儀
    bruker VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀 VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀,能夠為您帶來佳的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優(yōu)質光學元件為儀器的極限靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證。
    更新日期:2025-08-13訪問量:3259廠商性質:代理商
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  • bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100
    bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100 具備高性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。 該系統(tǒng)占地面積小,所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的白光干涉(WLI)創(chuàng)新技術,具有強大的二維/三維高分辨測量能力
    更新日期:2025-08-13訪問量:3561廠商性質:代理商
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  • SNL-10探針 bruker 原子力顯微鏡探針
    SNL-10探針 bruker 原子力顯微鏡探針 懸臂規(guī)范 材料:氮化硅 幾何:三角 懸臂梁數量4 懸臂厚度(Nom): 0.6pm 懸臂厚度(RNG): 0.55 ~ 0.65pm 背面涂層:反光金 表層背面:45±5 nm的Ti/Au
    更新日期:2025-08-13訪問量:4162廠商性質:代理商
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